SET传播过程中的脉冲展宽效应

• 作者: 刘征 刘必慰 梁斌 陈书明
• 来源期刊: 半导体学报
• 学科: 工学
• 关键词: 电路模拟 SET 脉冲展宽
• 年，卷（期）: 2008,（9）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 1827-1831
• 页数: 5页
• 分类号: TN406
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-4177.2008.09.037

摘要

利用SPICE电路模拟研究了SET在传播过程中的脉冲展宽效应.结果表明,负载的不均衡、电路上/下拉网络驱动能力的不对称以及浮体效应是造成脉冲展宽/压缩的主要原因.本文从基本的上升/下降延迟计算出发,对脉冲展宽/压缩的机理进行了深入的分析,认为在负载均衡的条件下,SOI反相器链中的脉冲展宽效应主要归因于浮体效应和"局部"浮体效应.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈书明	国防科技大学计算机学院	65	467	11.0	18.0
2	刘必慰	国防科技大学计算机学院	17	101	6.0	9.0
3	梁斌	国防科技大学计算机学院	17	102	6.0	9.0
4	刘征	国防科技大学计算机学院	6	66	4.0	6.0