负压引起高压驱动芯片电路失效的解决方案

• 作者: 李海华 褚卫东
• 来源期刊: 电子科技
• 学科: 工学
• 关键词: 自举电路 感性负载 高压驱动芯片
• 年，卷（期）: 2008,（5）
• 所属期刊栏目: 电子·电路
• 页码范围: 1-4,29
• 页数: 5页
• 分类号: TN14
• 字数: 2488字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-7820.2008.05.001

摘要

介绍了高压驱动芯片的内部原理;分析了感性负载电路中负压产生的原因和引起高压驱动芯片误触发而使产品失效的机理;列举了两种通用的解决方法,并提出了另一种更为有效的方案,该方案已经在实际产品的电路中得到应用,取得了很好的效果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李海华	上海交通大学微纳科学技术研究院	10	11	2.0	3.0
2	褚卫东	上海交通大学微纳科学技术研究院	1	6	1.0	1.0