元器件测试筛选先后次序的决定原则

• 作者: 朱瑜
• 来源期刊: 电子工程师
• 学科: 工学
• 关键词: 元器件测试 测试筛选 失效模式
• 年，卷（期）: 2008,（3）
• 所属期刊栏目: 测控技术
• 页码范围: 9-11
• 页数: 3页
• 分类号: TM930.12
• 字数: 3359字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-4888.2008.03.003

摘要

从元器件失效的原理出发,叙述了分析元器件失效的具体失效模式与引起各种元器件失效的失效模式之间的相互关联性、各种元器件测试筛选方法可能引发的元器件失效模式,以及不同元器件测试筛选先后次序对最终测试结果的影响,从理论上推导出一种较好的决定元器件测试筛选先后次序的原则.实践表明,应用这种原则,可以最大限度提高测试筛选的有效性和经济性,在最短时间内迅速找出有有缺陷、质量不符合要求的产品,而且失效模式定位准确,为查明失效的产生机理提供数据支持,是一种有效的安排元器件测试筛选先后次序的原则.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	朱瑜		2	7	2.0	2.0