电子产品的故障分析技术

• 作者: 刘宏
• 来源期刊: 电子质量
• 学科: 工学
• 关键词: 电子产品 故障 分析
• 年，卷（期）: 2008,（12）
• 所属期刊栏目: 可靠性分析
• 页码范围: 49-51
• 页数: 3页
• 分类号: TN710
• 字数: 3845字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2008.12.017

摘要

文中简单介绍电子产品的敞障分析技术.着重介绍如何开展故障分析,以确保故障信息的正确性和完整性,达到改进产品质量的目的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘宏	中国电子科技集团公司第四十一研究所	58	385	9.0	18.0