一种去嵌入射频测量技术

• 作者: 叶荣芳 黄成
• 来源期刊: 电路与系统学报
• 学科: 工学
• 关键词: 夹具测量 去嵌入 双端口网络 S参数
• 年，卷（期）: 2008,（2）
• 所属期刊栏目: 研究简报
• 页码范围: 132-134,35
• 页数: 4页
• 分类号: TP353
• 字数: 1732字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-0249.2008.02.026

摘要

去嵌入是一种射频微波精确测量技术.本文介绍了一种新型的去嵌入测量技术.该方法只需要一个对称的直通微带结构就能完成去嵌入.最后利用该方法对0603封装的电感进行了测量,并提取了精确测量后的电感模型.结果表明本去嵌入方法可以应用于射频PCB上器件模型的精确测量和模型提取.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄成	东南大学电子工程系	8	31	3.0	5.0
2	叶荣芳	东南大学电子工程系	2	35	2.0	2.0