损耗对CICC导体设计影响的模拟研究

• 作者: 蒋华伟
• 来源期刊: 低温与超导
• 学科: 物理学
• 关键词: CICC 数值仿真 稳定性 损耗机理
• 年，卷（期）: 2008,（7）
• 所属期刊栏目: 超导技术
• 页码范围: 16-19
• 页数: 4页
• 分类号: O51
• 字数: 3257字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-7100.2008.07.005

摘要

聚变装置上低温超导磁体的管内电缆导体(Cable-in-Conduit Conductor, CICC)运行在大电流和快速变化磁场环境中,导体的合理设计是其能否稳定运行的关键.由于工程上CICC导体的设计是一个多次尝试和优化的过程,为此提出了基于稳定性和损耗机理的导体设计思想;推导了关于CICC导体结构参数矩阵方程;建立了导体数值仿真的基本设计模型.同时进行了导体的模拟设计,并将仿真设计结构与工程设计情况进行了比较和分析,结果证明二者吻合的较好.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蒋华伟		39	183	8.0	12.0