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摘要:
以排列不等式定理为基础,针对集成电路的测试数据压缩,提出一种测试数据编码前缀的映射方法,通过对编码前缀进行映射后,使测试编码前缀的总长度得到降低,从而测试数据得到进一步压缩.该方法的硬件开销很小,解压方法简单.实验结果表明,该方法有效地提高了集成电路测试数据的压缩率.
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文献信息
篇名 基于编码前缀映射的测试数据压缩方法
来源期刊 牡丹江师范学院学报(自然科学版) 学科 工学
关键词 测试压缩 编码前缀 映射
年,卷(期) 2008,(2) 所属期刊栏目 数学与信息科学
研究方向 页码范围 26-28
页数 3页 分类号 TP274.23
字数 2127字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1003-6180.2008.02.016
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 马光胜 哈尔滨工程大学计算机科学与技术学院 74 240 8.0 12.0
2 于海涛 哈尔滨工程大学计算机科学与技术学院 23 166 6.0 12.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
测试压缩
编码前缀
映射
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
牡丹江师范学院学报(自然科学版)
季刊
1003-6180
23-1289/N
16开
黑龙江省牡丹江市文化街191号
1975
chi
出版文献量(篇)
2986
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