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摘要:
研究了不同腐蚀体系对InAs/GaSb超晶格材料台面的刻蚀,并从中选择了由氢氟酸、酒石酸和双氧水构成的酒石酸腐蚀体系.该体系较适合lnAs/GaSb超晶格材料的刻蚀,刻蚀速率稳定,下切效应小.进一步研究发现当HF达到一定浓度后不再影响刻蚀速度;在较低的酒石酸和双氧水浓度下,刻蚀速度是由氧化过程控制,且反应速度和双氧水的浓度成正比.腐蚀液配比为酒石酸(3.5g):H2O2(4 mL):HF(1 mL):H2O(400 mL),刻蚀速度约为0.5 μm/min.
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内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 InAs/GaSb超晶格红外探测器台面湿法腐蚀研究
来源期刊 微纳电子技术 学科 工学
关键词 砷化铟/锑化镓 超晶格 化学湿法腐蚀 台面刻蚀 溶液配比
年,卷(期) 2008,(5) 所属期刊栏目 显微、测量、微细加工技术与设备
研究方向 页码范围 298-301
页数 4页 分类号 TN362|TN305.2
字数 2876字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1671-4776.2008.05.011
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 鲁正雄 19 80 5.0 7.0
2 丁嘉欣 13 43 3.0 6.0
3 孙维国 20 99 5.0 8.0
4 陈慧娟 4 19 2.0 4.0
5 彭振宇 2 15 1.0 2.0
6 郭杰 2 20 2.0 2.0
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超晶格
化学湿法腐蚀
台面刻蚀
溶液配比
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微纳电子技术
月刊
1671-4776
13-1314/TN
大16开
石家庄市179信箱46分箱
18-60
1964
chi
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