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摘要:
采用Cu、In双靶,低功率直流磁控溅射的方法沉积Cu-In双层预置膜,然后采用固态源硒化法生成CuInSe2(CIS)薄膜.采用SEM和EDX观察和分析薄膜的表面形貌与成分,用XRD表征薄膜的组织结构.重点分析了不同衬底,不同铜、铟溅射顺序对Cu-In双层预置膜与CuInSe2半导体薄膜成分、形貌和相结构的影响,分析了不同溅射顺序下薄膜的生长机制.以镀Mo玻璃为衬底生长的薄膜具有更理想的形貌;在Cu-In膜制备过程中采用先溅射Cu后溅射In的沉积顺序,能有效地利用元素In润湿能力强的特点,使Cu、In充分结合形成均匀致密的Cu-In预置膜,经硒化处理得到了具有单一黄铜矿结构的CulnSe2半导体薄膜.
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文献信息
篇名 溅射Cu/In叠层预置膜再硒化法制备CuInSe2薄膜
来源期刊 太阳能学报 学科 工学
关键词 磁控溅射 Cu-In双层膜 溅射顺序 CIS膜
年,卷(期) 2008,(3) 所属期刊栏目 理论与实践
研究方向 页码范围 312-318
页数 7页 分类号 TK513
字数 2677字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:0254-0096.2008.03.011
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 朱洁 北京科技大学新金属材料国家重点实验室 26 219 9.0 13.0
2 李健 北京科技大学新金属材料国家重点实验室 18 207 9.0 13.0
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磁控溅射
Cu-In双层膜
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CIS膜
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