温度和工艺参数浮动下双阈值footed多米诺电路的漏电流特性

• 作者: 宫娜 庞娇 汪金辉 郭宝增
• 来源期刊: 半导体学报
• 学科: 工学
• 关键词: footed多米诺 双阈值 漏电流 工艺参数浮动
• 年，卷（期）: 2008,（12）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 2364-2371
• 页数: 8页
• 分类号: TN4
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-4177.2008.12.015

摘要

考虑到温度和工艺参数浮动的影响,对休眠双阈值footed多米诺电路的漏电流特性进行了系统的量化研究和比较,得到了不同温度下的最佳休眠状态.基于65和45nm BSIM4模型的HSPICE仿真表明:与业已提出的CHIL(时钟为高,输入均为低电平)状态和CHIH(时钟和输入均为高电平)状态相比,本文提出的CLIL(时钟和输入均为低电平)状态更有利于减小低温下电路的漏电流和高温下的多扇人电路的漏电流.而且,分析了工艺参数的浮动对双阈值footed多米诺电路的漏电流特性的影响,并给出了温度和工艺参数浮动下,双阈值footed多米诺电路漏电流最小的休眠状态.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郭宝增	河北大学电子信息工程学院	61	447	11.0	19.0
2	汪金辉	北京工业大学集成电路与系统研究室	36	129	6.0	9.0
3	庞娇	河北大学电子信息工程学院	3	2	1.0	1.0
4	宫娜	河北大学电子信息工程学院	9	36	4.0	5.0