利用白光数字图像频域分析法测量工程高分子材料Ш型裂纹尖端应力强度因子

• 作者: 杨新伟 计欣华 陈金龙
• 来源期刊: 光学技术
• 学科: 物理学
• 关键词: 光学测量 数字图像 频域分析 应力强度因子
• 年，卷（期）: 2008,（5）
• 所属期刊栏目: 光学测量
• 页码范围: 764-767,771
• 页数: 5页
• 分类号: O348.11
• 字数: 2623字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1002-1582.2008.05.006

摘要

白光数字图像频域分析法具有测试系统简单,非接触,全场测量等优点,通过频域相 关算法分析可以得到三维位移场.推导了用白光数字图像频域分析法的双CCD系统测量三维 位移场的公式,并将其应用于Ш型裂纹尖端应力强度因子的测量.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈金龙	天津大学机械学院力学系	40	526	11.0	22.0
2	计欣华	天津大学机械学院力学系	24	203	9.0	13.0
3	杨新伟	天津大学机械学院力学系	2	6	1.0	2.0