用双能X射线测量双组分物质的质量厚度

• 作者: 李红梅 沈激 陈子瑜 陈敏聪
• 来源期刊: 核技术
• 学科: 工学
• 关键词: 双能 X射线 等效能量 衰减系数 质量厚度
• 年，卷（期）: 2008,（7）
• 所属期刊栏目: 低能加速器技术、射线技术及应用
• 页码范围: 511-514
• 页数: 4页
• 分类号: TL812|O734
• 字数: 2599字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-3219.2008.07.008

摘要

通过加吸收片的方法,获得样品在给定高压下的X射线等效能量,可用来测量该样品的质量厚度.本文讨论了测量双组分样品质量厚度的方法,发现在实验的双组分样品厚度范围内,用单组分样品的等效质量衰减系数代替双组分样品中该组分的质量衰减系数来计算双组分样品的质量厚度,具备可行性,测量结果的误差在5%以内.测量实物鱼体,求解出鱼体的软组织和骨组织的质量厚度,进一步证明在双组分样片厚度不大的情况下,这种测量方法的现实可行性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	沈激	中国科学技术大学近代物理系	23	126	7.0	10.0
2	陈子瑜	中国科学技术大学近代物理系	21	125	7.0	10.0
3	李红梅	中国科学技术大学近代物理系	23	761	12.0	23.0
4	陈敏聪	中国科学技术大学近代物理系	3	28	2.0	3.0