一种基于神经网络的组合电路测试生成算法

• 作者: 于晓东 杨兴 谢志远
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: 测试生成 神经网络 能量函数 遗传算法
• 年，卷（期）: 2008,（9）
• 所属期刊栏目: 理论与研究
• 页码范围: 1-3
• 页数: 3页
• 分类号: TN407
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2008.09.001

摘要

介绍了一种基于神经网络的组合电路测试生成算法.利用Hopfield神经网络模型将组合电路表示成对应的神经网络,通过建立被测电路的约束网络,构造神经网络的能量函数,使组合电路的测试矢量对应神经网络能量函数的最小值点,使得测试生成问题数学化,并使用遗传算法求解能量函数的最小值点得到故障电路的测试矢量.通过在一些标准电路的实验表明,该测试生成算法有效可行.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨兴	华北电力大学电子与通信工程系	11	43	3.0	6.0
2	谢志远	华北电力大学电子与通信工程系	100	776	15.0	22.0
3	于晓东	华北电力大学电子与通信工程系	7	34	3.0	5.0