基于多层螺旋CT扫描的安检系统研究

• 作者: 姜增辉 王珏 王福全
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: 多层螺旋扫描 螺距 CT值 滑环 安检机
• 年，卷（期）: 2008,（4）
• 页码范围: 717-721
• 页数: 5页
• 分类号: TH878
• 字数: 4549字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2008.04.011

摘要

本文说明了国内外安检技术发展现状;阐述了螺旋CT技术以及如何确定物质的CT数等;研究了螺旋CT扫描方式的关键技术(射线源、探测器及滑环技术等)及其相互间的关系;通过对现有安检设备及性能的比较,得出了采用多层螺旋CT扫描技术对物质进行检测和识别,是今后安检领域发展的必然趋势.