电子设备的射频干扰效应研究

• 作者: 叶红军 张武森
• 来源期刊: 现代防御技术
• 学科: 工学
• 关键词: 射频干扰 孔缝耦合 有限元方法
• 年，卷（期）: 2008,（3）
• 所属期刊栏目: 探测跟踪技术
• 页码范围: 87-91
• 页数: 5页
• 分类号: V443|TN972
• 字数: 2247字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-086X.2008.03.021

摘要

首先应用有限元方法(FEM),研究了电磁脉冲信号通过孔缝进入电子设备的情况,并进一步计算了宽带电磁信号与机箱内板级微带电路耦合而产生的感应电流,最后使用非线性电路分析软件(PSpice)分析了电磁耦合能量对电子线路中的半导体器件所造成的射频干扰效应.此项研究为防空武器杀伤目标提供了一种新的杀伤机理,也对防空武器防止电磁杀伤提供了一种途径,对武器系统的研制有一定的指导意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	叶红军	空军工程大学理学院	4	17	2.0	4.0
2	张武森	空军工程大学理学院	15	38	4.0	5.0