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摘要:
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晶圆表面缺陷检测
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主成分分析
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晶圆分割
直线检测
形状配准
仿射迭代最近点
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
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文献信息
篇名 激增的需求推动晶圆清洗技术的发展
来源期刊 集成电路应用 学科
关键词
年,卷(期) 2008,(10) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 20-23
页数 4页 分类号
字数 5838字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1674-2583.2008.10.019
五维指标
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
集成电路应用
月刊
1674-2583
31-1325/TN
16开
上海宜山路810号
1984
chi
出版文献量(篇)
4823
总下载数(次)
15
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