电离层随机变化对OTH雷达坐标配准的影响

• 作者: 周晨 赵正予
• 来源期刊: 电波科学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 射线追踪 统计电离层模型 极大似然估计 统计再抽样
• 年，卷（期）: 2008,（5）
• 页码范围: 894-898
• 页数: 5页
• 分类号: TN958.93
• 字数: 3461字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-0388.2008.05.019

摘要

基于电离层实测数据,通过参数统计再取样的方法(bootstrap)建立了一种电离层随机变化模型,在此模型的基础上,用射线追踪的方法讨论了电离层随机扰动对超视距雷达坐标配准的影响.并提出了通过极大似然估计的方法改善这种扰动的影响,最后与最小方差法进行了比较,其对电离层随机扰动影响的改善要优于最小方差的估计.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵正予	武汉大学电子信息学院	156	658	13.0	15.0
2	周晨	武汉大学电子信息学院	42	106	6.0	7.0