电子系统BIT设计技术初探

• 作者: 刘海彬 张小林
• 来源期刊: 中国测试技术
• 学科: 工学
• 关键词: BIT(built in test)技术 BITE(built in test equipment) MTM JTAG LRU
• 年，卷（期）: 2008,（3）
• 所属期刊栏目: 计算机与信息技术
• 页码范围: 80-83
• 页数: 4页
• 分类号: O242.1|TP751
• 字数: 3508字
• 语种: 中文

摘要

BIT(自检)是电子系统可测试性设计的重要组成部分,是电子系统或设备内部检测和隔离故障的重要手段.首先对电子系统BIT设计的定性及定量要求、基本方法及设计思路进行系统的阐述分析,结合电子系统或设备故障检测与隔离的难点,对国内外电子系统的可测试性新技术进行了介绍,并对这些技术应用于电子系统BIT的方法及可行性进行了分析说明.最后提出通过制定良好的BIT层次结构,运用边界扫描、维修总线等新技术,以及并行设计等开发模式,可以极大地提高电子系统或装备的BIT能力.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张小林		1	15	1.0	1.0
2	刘海彬		1	15	1.0	1.0