纳米技术设计高品质的延迟测试

• 作者: M特拉尼普 刘克玲
• 来源期刊: 国外科技新书评介
• 学科: 工学
• 关键词: 纳米技术 测试方法 设计 延迟 品质 制作技术 故障率 故障模式
• 年，卷（期）: 2008,（7）
• 页码范围: 15
• 页数: 1页
• 分类号: TP332

摘要

纳米制作技术的革新提高了设备的集成性和性能，但也使制作中的故障增多了。由于设计的规模已达百万门数，频率达GHz，因此在芯片的总故障率中，与时序相关的故障占大部分。在纳米技术设计中，传统的测试方法已不能确保芯片的高质量；当尺度小于180nm时，实速测试和跳变时延故障模式成为很需要的技术。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘克玲	中国科学院过程工程研究所	97	71	3.0	8.0