全定制芯片的测试码产生方法

• 作者: 李少青 邓勤学 陈绥阳
• 来源期刊: 航空计算技术
• 关键词: 测试码产生 功能码 调试链路
• 年，卷（期）: 2008,（6）
• 所属期刊栏目: 计算机应用
• 页码范围: 92-94,98
• 页数: 4页
• 分类号: TN47
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-654X.2008.06.026

摘要

针对全定制设计的芯片提出人工产生测试码的方法.该方法充分利用功能验证程序,从中挑选出对测试有用的信息,经过转换得到满足基本故障覆盖的测试码;再结合芯片自身的结构特点,合理利用芯片内部的调试结构,并按功能部件利用调试链路追加测试码,从而补充完善得到比较完备的测试码.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李少青		15	77	4.0	8.0
2	陈绥阳		23	93	5.0	9.0
3	邓勤学		1	0	0.0	0.0