微处理器故障注入工具与故障敏感度分析

• 作者: 张英武 袁国顺
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 故障注入 单粒子效应 高可靠微处理器
• 年，卷（期）: 2008,（7）
• 所属期刊栏目: 技术专栏(半导体检测与测试技术)
• 页码范围: 589-591,599
• 页数: 4页
• 分类号: TN302
• 字数: 3034字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-353X.2008.07.010

摘要

总结了单粒子效应的各种表现形式,明确在集成电路抗单粒子加固时应着重考虑单粒子翻转和单粒子瞬变.通过分析、对比大量故障注入方法,设计了基于仿真的自动故障注入及分析系统,具有模型准确、运行速度快、自动化程度高等特点.采用此系统分析了一款32bit RISC微处理器对单粒子翻转和单粒子瞬变两种故障的敏感度.通过注入约2×105个故障,保证了实验的统计意义.试验分析指出,在设计加固微处理器时应该着重考虑存储单元、时钟信号和关键模块.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	袁国顺	中国科学院微电子研究所	50	218	7.0	12.0
2	张英武	中国科学院微电子研究所	5	51	5.0	5.0