半导体激光器筛选方法及可行性测试

• 作者: 李洪祚 李锐
• 来源期刊: 长春师范学院学报：自然科学版
• 学科: 工学
• 关键词: 半导体激光器 热沉损耗
• 年，卷（期）: 2008,（5）
• 页码范围: 11-15
• 页数: 5页
• 分类号: TN3

摘要

生命期测试和筛选测试在开发和生产半导体激光器中是一个重要的测试过程。尽管这些测试过程原则上很简单，实际上这些测试过程因激光器的差异而变得十分复杂，要求较低的花销，要求在延长的时间中有高稳定的测量方式。在过去的30年里，已经开发出了设备和技术来支持这个技术领域。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李洪祚	长春理工大学空间光电技术研究所	66	340	10.0	16.0
2	李锐	长春理工大学空间光电技术研究所	20	72	5.0	8.0