12位双极数模转换器高低剂量率的辐射效应

• 作者: 于跃 任迪远 李鹏伟 王义元 郑玉展 陆妩 高博
• 来源期刊: 核技术
• 学科: 工学
• 关键词: 数模转换器 辐射效应 室温退火 ELDRS
• 年，卷（期）: 2008,（9）
• 所属期刊栏目: 低能加速器技术、射线技术及应用
• 页码范围: 685-688
• 页数: 4页
• 分类号: TN431|TN79
• 字数: 3483字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-3219.2008.09.010

摘要

通过对12位双极数模转换器在60Co γ射线的高低剂量率的辐照实验和室温退火实验的对比分析,发现数模混合电路在不同剂量率辐照下的电离辐照响应有很大差异.这种混合电路不但表现出明显的低剂量率损伤增强效应,而且表现出时间相关效应.结合辐射响应测试过程和空间电荷模型,对其损伤模块和辐射损伤机理进行初步探讨.