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摘要:
从2000年开始,结技术国际研讨会(IWJT)由日本应用物理学会硅技术分会发起在日本每年召开一届,到2008年已经是第8届了。从2004年开始,IWJT开始在上海和日本之间交替召开。复旦大学承办了2004、2006和2008年的IWJT。IWJT是一个在国际学术组织IEEE注册的正式系列会议,是集成电路工艺领域中一个档次很高的专题研讨会。
内容分析
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文献信息
篇名 第8届结技术国际研讨会
来源期刊 国际学术动态 学科 工学
关键词 国际研讨会 硅技术 集成电路工艺 专题研讨会 物理学会 复旦大学 IEEE 学术组织
年,卷(期) gjxsdt_2008,(6) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 54
页数 1页 分类号 TN492
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研究主题发展历程
节点文献
国际研讨会
硅技术
集成电路工艺
专题研讨会
物理学会
复旦大学
IEEE
学术组织
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
国际学术动态
双月刊
大16开
武汉市华中科技大学图书馆
1983
chi
出版文献量(篇)
5523
总下载数(次)
22
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