扩展相容性多扫描树的设计

• 作者: 刘志华 尤志强 张大方 成永升
• 来源期刊: 计算机工程
• 学科: 工学
• 关键词: 多扫描树 可测性设计 全扫描测试
• 年，卷（期）: 2008,（22）
• 所属期刊栏目: 工程应用技术与实现
• 页码范围: 234-235,238
• 页数: 3页
• 分类号: TP302
• 字数: 2041字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3428.2008.22.082

摘要

针对实际电路具有多个扫描输入的情况,设计出一种新的具有多个扫描输入的扫描树结构,该结构能有效降低测试应用时间和平均测试功耗.实验结果表明,当有两个扫描输入时,测试应用时间最高可降低52.4%,平均功耗最高可降低60.8%.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	尤志强	湖南大学软件学院	32	128	5.0	9.0
2	张大方	湖南大学软件学院	295	2498	22.0	33.0
3	成永升	湖南大学计算机与通信学院	2	6	2.0	2.0
4	刘志华	湖南大学软件学院	19	553	11.0	19.0