基于LSSVM的威布尔分布形状参数估计

• 作者: 姚若河 邹心遥
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 可靠性评估 威布尔参数估计 最小二乘支持向量机 最小二乘回归
• 年，卷（期）: 2008,（6）
• 所属期刊栏目: 封装、测试与设备
• 页码范围: 501-505
• 页数: 5页
• 分类号: TN206.1|TN360
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-353X.2008.06.012

摘要

固态介质击穿寿命特性通常用威布尔分布来描述,形状参数卢反应了固态介质的失效特征,因而需要精确估计β值.提出了在小样本情况下基于最小二乘支持向量机(LSSVM)的参数评估方法,并给出了LSSVM在MOS电容与时间有关的击穿寿命分布评估中的应用实例,并与常规的最小二乘评估方法相比,得到的结果表明LSSVM的评估精度更高(均方误差更小)、鲁棒性更好,在小样本情况下能更精确地确定威布尔分布的形状参数.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	姚若河	华南理工大学电子与信息学院微电子研究所	126	611	11.0	18.0
2	邹心遥	华南理工大学电子与信息学院微电子研究所	6	61	5.0	6.0