高频噪声对上海光源储存环束流品质的影响

• 作者: 冀锐敏 刘桂民 后接 田顺强 陈光玲
• 来源期刊: 核技术
• 学科: 物理学
• 关键词: 上海光源储存环 高频噪声 DKW理论 束团长度 能散 辐射光通量
• 年，卷（期）: 2008,（5）
• 所属期刊栏目: 第一代同步辐射技术及应用
• 页码范围: 321-324
• 页数: 4页
• 分类号: O572.21
• 字数: 2568字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-3219.2008.05.001

摘要

为了向用户提供高品质的同步辐射光,储存环束流应具有好的性能.储存环高频噪声的存在会影响到束流品质.本文基于DKW理论,研究了高频幅度噪声与相位噪声对束流能散度的影响,并分析了束团长度拉伸效应,以及对小间隙插入件U27上微聚焦光束品质的影响.模拟结果显示,位相噪声对束流品质以及辐射光品质的影响比较显著,且阶次越高的辐射光受高频噪声的影响越大.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘桂民	中国科学院上海应用物理研究所	32	574	11.0	23.0
2	田顺强	中国科学院上海应用物理研究所	4	2	1.0	1.0
6	后接	中国科学院上海应用物理研究所	9	17	2.0	4.0
10	冀锐敏	中国科学院上海应用物理研究所	3	3	1.0	1.0
14	陈光玲	中国科学院上海应用物理研究所	2	1	1.0	1.0