光开关中光路耦合的设计和调试技术

• 作者: 徐先庆 闫继送
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: 光开关 插入损耗 光路调试
• 年，卷（期）: 2008,（5）
• 所属期刊栏目: 可靠性分析
• 页码范围: 62-64
• 页数: 3页
• 分类号: TN622
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2008.05.021

摘要

在多路光开关中,为了保证切换过程中,每一路光传输中插入损耗等关键指标的实现,文中介绍了一种光路耦台的设计和调试技术,该方法简单实用,可靠性高并易于实现,满足了批量化生产的调试要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐先庆		3	6	2.0	2.0
2	闫继送		15	18	3.0	3.0