功率发光二极管的寿命预测

• 作者: 蔡伟智
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 发光二极管 阿仑尼斯 寿命实验 结温 退化
• 年，卷（期）: 2008,（10）
• 所属期刊栏目: 封装、测试与设计
• 页码范围: 902-904
• 页数: 3页
• 分类号: TN364.2
• 字数: 2824字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-353X.2008.10.016

摘要

针对功率发光二极管(LED)的使用寿命问题,提出了利用阿仑尼斯模型预测功率发光二极管器件寿命的方法,以器件输出光功率P下降到初始值P0的50%为失效判据,通过对功率蓝光GaN LED芯片两个结温点的高温恒定应力加速寿命实验结果进行分析计算,求出了功率蓝光GaN LED器件在正常应力条件下的期望寿命,确定阿仑尼斯模型在功率发光二极管寿命实验过程中的适用性,为预测功率发光二极管寿命提供理论依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蔡伟智		9	38	5.0	5.0