基于稳健设计优化技术的缺陷参数红外识别研究

• 作者: 孙丰瑞 寇蔚 杨立
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: 稳健设计 优化 缺陷识别 红外
• 年，卷（期）: 2008,（3）
• 所属期刊栏目: 光电子器件及显示技术
• 页码范围: 743-747
• 页数: 5页
• 分类号: TK12|TN21
• 字数: 3425字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2008.03.001

摘要

将缺陷参数的红外识别问题描述成多目标优化问题并引入了稳健设计优化(RDO)技术.传热反问题控制方程的不适定性和边界条件不确定因素的波动,造成了优化解通常不具有稳健性(robustness).稳健设计优化技术在取得目标的最优解的同时,使该目标在可行区域内对变量的变化不敏感,使得结果不仅更为可靠,且具有很强的灵活性.最后给出了稳健设计优化技术在沉孔型缺陷参数红外识别中一个简单的应用例子.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨立	海军工程大学船舶与动力学院热工教研室	174	1546	19.0	29.0
2	孙丰瑞	海军工程大学船舶与动力学院热工教研室	316	1992	21.0	29.0