贮氢钛膜氢含量的中子反射分析方法设计

• 作者: 宋建明 李新喜 王燕 陈波 黄朝强
• 来源期刊: 原子与分子物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: Ti膜 吸氘 表面氧化 中子反射
• 年，卷（期）: 2008,（5）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 1017-1022
• 页数: 6页
• 分类号: O571.56
• 字数: 2676字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-0364.2008.05.002

摘要

对3 μm厚Ti膜的中子反射率谱进行理论计算,得到了Ti膜在不同含氘量(TiDc,c=0.5、1.0、1.5和2.0)、表面是否氧化下的反射率谱.数据表明,用中子反射技术可以获取含氘量和表面氧化程度等信息.同时,根据需测量的膜层最大厚度,对反射谱仪部分参数提出了要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李新喜	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	26	50	4.0	5.0
2	宋建明	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	12	21	2.0	4.0
3	黄朝强	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	36	52	4.0	5.0
4	陈波	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	97	475	12.0	18.0
5	王燕	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	23	28	3.0	4.0