CCD致冷技术在小型光谱仪降噪中的应用

• 作者: 孙利群 章恩耀 陈芳
• 来源期刊: 应用光学
• 学科: 工学
• 关键词: 小型光谱仪 半导体致冷技术 CCD 光度噪声 暗电流
• 年，卷（期）: 2008,（6）
• 所属期刊栏目: 光电工程
• 页码范围: 854-858
• 页数: 5页
• 分类号: TN15-3
• 字数: 2880字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-2082.2008.06.004

摘要

与传统光谱仪相比,小型光谱仪在性能上存在着较大的差距,光度准确度较差、信噪比低等问题限制了其在弱光检测中的应用.分析小型光谱仪的噪声来源及其抑制方法,结合CCD设计了其致冷结构,并采用半导体致冷技术对自行设计的小型光谱仪进行了降噪处理.测量了不同温度下CCD的暗电流,发现致冷对CCD噪声起到很好的抑制作用;在此基础上,参照分光光度计的国家机械行业标准和计量检定规程,测量了致冷条件下小型光谱仪的光度噪声和基线平直度.结果表明:致冷能有效地提高仪器的性能,实验用小型光谱仪的光度噪声为±0.002 Abs,基线平直度为±0.004 Abs.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	章恩耀	清华大学精密测试技术及仪器国家重点实验室	22	174	8.0	12.0
2	孙利群	清华大学精密测试技术及仪器国家重点实验室	39	296	9.0	15.0
3	陈芳	清华大学精密测试技术及仪器国家重点实验室	4	20	2.0	4.0