开路电压与太阳电池少子寿命关系的推导及其应用的研究

• 作者: 彭银生 陈庭金
• 来源期刊: 太阳能学报
• 学科: 工学
• 关键词: 太阳电池 开路电压衰减法测量 少子寿命
• 年，卷（期）: 2008,（1）
• 所属期刊栏目: 理论与实践
• 页码范围: 50-54
• 页数: 5页
• 分类号: TK511+.4
• 字数: 3014字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0254-0096.2008.01.010

摘要

从理论上详细推导了晶体硅太阳电池在脉冲光照下,开路电压Voc(t)与少数载流子寿命的关系,同时研究了N-P结势垒电容放电时对Voc(t)的影响;从实验上验证了开路电压随时间的衰减关系,并运用该关系测量了硅太阳电池少数载流子寿命,测量结果较为准确.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈庭金	云南师范大学太阳能研究所	42	351	10.0	17.0
2	彭银生	海南医学院信息技术部数理教研室	3	18	2.0	3.0