基于稀疏化LS-SVM的漏磁缺陷三维轮廓重构

• 作者: 孙钦蕾 王瑾 王长龙 纪凤珠
• 来源期刊: 兵工学报
• 学科: 工学
• 关键词: 材料检测与分析技术 漏磁检测 最小二乘支持向量机 稀疏化 三维轮廓重构
• 年，卷（期）: 2008,（5）
• 页码范围: 592-595
• 页数: 4页
• 分类号: TG115.28
• 字数: 3052字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-1093.2008.05.019

摘要

漏磁缺陷轮廓重构是指由检测到的漏磁信号重构缺陷轮廓及参数,是实现漏磁反演的关键.将最小二乘支持向量机(LS-SVM)应用于漏磁缺陷的三维轮廓重构中,并对LS-SVM采取了稀疏化处理,将漏磁信号磁通密度法向分量Bx作为支持向量机网络的输入,缺陷的几何参数长度、宽度、深度作为输出,由实验测量数据和三维有限元仿真计算得到的仿真数据组建样本库.建立了由缺陷的漏磁信号到缺陷三维轮廓图的映射关系,实现了缺陷三维轮廓的重构.实验结果表明:该方法具有很高的精度和很好的泛化能力,同时对噪声也有一定容忍能力.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王瑾	军械工程学院电气工程系	18	100	6.0	9.0
2	王长龙	军械工程学院电气工程系	89	339	10.0	14.0
3	纪凤珠	军械工程学院电气工程系	16	103	6.0	9.0
4	孙钦蕾	军械工程学院电气工程系	24	54	4.0	6.0