1300 nm超辐射发光二极管寿命测试

• 作者: 孙孟相 王鲁峰 谭满清
• 来源期刊: 光学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 光学器件 超辐射发光二极管 寿命 测试 激活能
• 年，卷（期）: 2008,（10）
• 所属期刊栏目: 光学器件
• 页码范围: 1994-1997
• 页数: 4页
• 分类号: TN365
• 字数: 2735字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-2239.2008.10.028

摘要

作为光纤陀螺用光源的超辐射发光二极管(SLD)随着工作时间的延续,其性能会发生退化.采用加速老化的实验方法来估算InGaAsP SLD管芯的工作寿命.分别在环境温度373 K和358 K下对5只SLD管芯进行加速老化,并通过对P-t曲线拟合来推算和估计管芯的老化速率和激活能.计算出了器件的激活能平均值约为0.82 eV,SLD管芯在室温下的工作寿命超过106h,可以满足光纤陀螺用光源的寿命要求.对影响SLD管芯可靠性的因素以及管芯的退化机理进行了分析,为研制高可靠性的超辐射发光二极管提供了理论基础.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谭满清	中国科学院半导体研究所	24	136	8.0	10.0
2	王鲁峰	中国科学院半导体研究所	12	85	5.0	9.0
3	孙孟相	中国科学院半导体研究所	2	17	2.0	2.0