热处理对V2O5-TiO2复合薄膜表面结构与光学性能的影响

• 作者: 吴广明 周斌 张志华 李德增 沈军 王爱荣 肖锟
• 来源期刊: 功能材料
• 学科: 物理学
• 关键词: 热处理 V2O5-TiO2复合薄膜 XPS
• 年，卷（期）: 2008,（6）
• 页码范围: 885-888
• 页数: 4页
• 分类号: O484.4
• 字数: 2429字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1001-9731.2008.06.003

摘要

以钛酸丁脂、V2O5粉末为前驱体,采用溶胶-凝胶法制备了V2O5-TiO2复合薄膜,并采用X射线光电子能谱(XPS)和Uv-vis-nir分光光度计等方法研究了热处理对薄膜性能的影响.结果表明,随热处理温度的升高,复合薄膜中钛离子的价态不变,仍为Ti4+;而V4+离子逐渐被氧化为V5+离子;并采用氢氧基团、碳氧键与多种钒离子进行叠加拟合,拟合结果与实验曲线非常符合;V2O5-TiO2复合薄膜在紫外光波段的透射率减小,吸收带边出现红移.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周斌	同济大学波耳固体物理研究所	140	1582	22.0	31.0
2	沈军	同济大学波耳固体物理研究所	199	2285	26.0	36.0
3	肖锟	同济大学波耳固体物理研究所	7	20	3.0	4.0
4	吴广明	同济大学波耳固体物理研究所	118	1607	22.0	32.0
5	王爱荣	同济大学波耳固体物理研究所	7	23	3.0	4.0
6	李德增	同济大学波耳固体物理研究所	4	14	3.0	3.0
7	张志华	同济大学波耳固体物理研究所	52	554	14.0	22.0