XRF强度影响系数法测定地质样品的组分

• 作者: 张庆贤 戴振麟 程锋 葛良全
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 化学
• 关键词: 强度影响系数法 基体效应 地质样品 XRF
• 年，卷（期）: 2008,（2）
• 页码范围: 425-429
• 页数: 5页
• 分类号: O657.34
• 字数: 2191字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2008.02.052

摘要

使用Si-PIN探测器和嵌入式计算机的便携式高能量分辨率X射线荧光(XRF)分析仪,建立影响系数法强度校正模型,对一些矿样(包括矿山中的原生矿)元素进行了测定,与化学分析结果相比较得出:矿样中的Fe元素含量在20%-55%之间的最大相对误差不超过4.74%;Cu元素含量在182ppm-2400ppm之间的最大相对误差不超过24.70%,在2400ppm-3600ppm之间的最大相对误差不超过7.46%,Zn元素含量在556ppm-3200ppm之间的最大相对误差不超过25.93%,在3200ppm-21600ppm之间最大相对误差不超过11.48%;Pb元素含量在5900ppm-204200ppm之间的最大相对误差不超过23.80%,在204200ppm-511200ppm之间的最大相对误差不超过13.79%.由此可见,该模型能够很好地克服各种基质成分基体效应的影响并且能够有效地指导矿山的选矿工作.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	葛良全	成都理工大学核技术与自动化工程学院	335	1967	19.0	25.0
2	程锋	成都理工大学核技术与自动化工程学院	25	129	7.0	9.0
3	戴振麟	成都理工大学核技术与自动化工程学院	7	53	4.0	7.0
4	张庆贤	成都理工大学核技术与自动化工程学院	76	250	8.0	11.0