傅里叶分析法求Stokes矢量测量扭曲向列相液晶盒盒厚和扭曲角

• 作者: 凌志华 崔宏青
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: 液晶 stokes参量 傅里叶分析法
• 年，卷（期）: 2008,（1）
• 所属期刊栏目: 液晶和其它非自发光显显示器
• 页码范围: 87-91
• 页数: 5页
• 分类号: TN27
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2008.01.021

摘要

本文提出了一种测量扭曲向列相液晶盒盒厚与扭曲角的新方法,在液晶盒和检偏器之间放置四分之一波片,通过旋转此四分之一波片,测量各个调制点的光强,用傅里叶分析法计算线偏振光穿过液晶盒后的 stokes 矢量,从而求出液晶盒盒厚以及扭曲角.实验证明,用此方法测量盒厚比较小的液晶盒厚有较高测量精度.另外,此方法也可以应用到单偏振片反射式液晶盒盒厚和扭曲角的测量.