基于FPGA的板级BIST设计和实现策略

• 作者: 安佰岳 杜影 赵文彦
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: BIST可测性 DFT FPGA 控制器 边界扫描
• 年，卷（期）: 2008,（3）
• 所属期刊栏目: 设计与应用
• 页码范围: 389-391
• 页数: 3页
• 分类号: TP274
• 语种: 中文

摘要

为解决复杂电路板的测试问题,边界扫描、内建自测试等可测性设计技术相继发展,针对目前板级可测性设计发展状况,提出了基于FPGA的板级BIST设计策略;通过阐述存储器模块、逻辑模块和模拟模块三大部分的BIST设计,说明了基于FPGA进行板级模块BIST设计的灵活性和优势;最后,给出了在FPGA内构建BIST控制器的方法,并介绍了FPGA自测试的实现以及在板级设计过程中要考虑的问题.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵文彦		2	11	2.0	2.0
2	杜影		12	19	2.0	3.0
3	安佰岳		5	28	3.0	5.0