氧空穴在 BaMgAl10O17荧光粉的能量转移过程中的作用

• 作者: 丹野 裕明 内田 仪一郎 张书秀 梶山 博司 篠田 傅
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: BAM Eu2+ 氧空穴 能量转移
• 年，卷（期）: 2008,（1）
• 所属期刊栏目: 显示材料
• 页码范围: 179-183
• 页数: 5页
• 分类号: TN104.3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2008.01.042

摘要

研究不掺杂和掺 Eu 的 BaMgAl10O17(BAM)荧光粉在真空紫外激发的光致发光(PL)、热致发光(TL)性能.研究发现不掺杂的BAM发射的空穴与缺陷产生的电子陷阱有很大的关系.我们认为这些缺陷与BAM空穴导电层的氧空穴有关.我们还认为掺了 Eu2+的BAM主体存在着缺陷.基于这些结果,我们提出了一种真空紫外激发 BAM:Eu2+荧光粉的能量转移模型.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	内田 仪一郎	广岛大学高等材料科学研究生院	1	1	1.0	1.0
2	篠田 傅	广岛大学高等材料科学研究生院	1	1	1.0	1.0
3	梶山 博司	广岛大学高等材料科学研究生院	1	1	1.0	1.0