数字电视解调芯片的可测试性设计与优化

• 作者: 余会星 林平分
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 可测试性设计 故障模型 测试图形 测试覆盖率
• 年，卷（期）: 2008,（8）
• 页码范围: 172-175
• 页数: 4页
• 分类号: TP31
• 语种: 中文

摘要

介绍了VLSI芯片的测试技术及故障模型,针对一款数字电视接收系统解调芯片,从设计中不同的阶段分析了集成电路的可测试性设计及其优化,解决了由于集成大量存储器引起的测试覆盖率低的问题,完成了该芯片满足时序要求的可测试性设计及优化过程,达到了流片要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	林平分	北京工业大学嵌入式系统重点实验室	92	254	8.0	12.0
2	余会星	北京工业大学嵌入式系统重点实验室	1	2	1.0	1.0