TiO2纳米薄膜的制备及其紫外-可见光谱研究

• 作者: 冶银平 崔海霞 李红轩 杜雯
• 来源期刊: 材料工程
• 关键词: 磁控溅射 TiO2纳米薄膜 紫外-可见光谱 禁带宽度
• 年，卷（期）: 2008,（10）
• 所属期刊栏目: "2008第七届中国国际纳米科技(武汉)研讨会"论文专辑
• 页码范围: 261-264
• 页数: 4页
• 分类号: O484.1
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-4381.2008.10.066

摘要

用磁控溅射技术在普通载玻片上制备了不同厚度透明的锐钛矿相二氧化钛(TiO2)纳米薄膜,利用X射线衍射仪(XRD)、场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)等分析方法对试样进行表征,并测试了其紫外-可见透射光谱,计算了此薄膜的禁带宽度,其值接近TiO2禁带宽度的理论值3.2eV.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	冶银平		3	27	3.0	3.0
2	杜雯		3	18	2.0	3.0
6	李红轩		1	9	1.0	1.0
7	崔海霞		1	9	1.0	1.0