0.70～2.48 MeV质子在F和Mg上160°背散射截面测量

• 作者: 刘运宏 孙旭芳 王广甫 王荣
• 来源期刊: 原子能科学技术
• 关键词: 质子 F Mg 背散射截面
• 年，卷（期）: 2008,（10）
• 所属期刊栏目: 物理
• 页码范围: 875-878
• 页数: 4页
• 分类号: O571
• 语种: 中文

摘要

应用北京师范大学2×1.7 MV串列静电加速器提供的质子束,采用相对测量方法测量了0.70～2.48 MeV宽能区质子在轻核F和Mg上160°(实验室坐标系)背散射截面.测量得到F、Mg各自对应能区的质子共振背散射截面数据,为含F、Mg轻元素的新型薄膜材料的高灵敏分析提供了实验数据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙旭芳		1	1	1.0	1.0
2	王荣		1	1	1.0	1.0
3	刘运宏		1	1	1.0	1.0
4	王广甫		1	1	1.0	1.0