塑封双极型功率晶体管的失效与案例分析

• 作者: 谢劲松 陈颖 霍玉杰
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 双极型 晶体管 失效机理 失效分析
• 年，卷（期）: 2008,（1）
• 所属期刊栏目: 封装、测试与设备
• 页码范围: 86-89
• 页数: 4页
• 分类号: TN306
• 字数: 2078字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-353X.2008.01.023

摘要

由于其自身的结构与封装形式,塑封双极型功率管存在很多可靠性问题.介绍了塑封双极型功率晶体管可靠性问题及失效机理,包括封装缺陷、粘结失效以及由于温度变化而引起的热应力失效和由于吸入潮气而导致的腐蚀失效.通过剖析一晶体管的失效机理,给出了对此类晶体管失效分析的方法和思路.讨论了晶体管存在异物、芯片粘结失效和热应力失效等失效模式.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谢劲松	北京航空航天大学可靠性工程研究所	32	499	10.0	22.0
2	陈颖	北京航空航天大学可靠性工程研究所	23	151	9.0	11.0
3	霍玉杰	北京航空航天大学可靠性工程研究所	2	3	1.0	1.0