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相位噪声测试系统比对方法研究
相位噪声测试系统比对方法研究
作者:
刘红春
刘红运
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
相位噪声测试系统
比对
实验室能力验证
摘要:
通过采用国际上先进的实验室比对和能力验证方法,提出了相位噪声测试系统的比对方案.通过大量实验,选定出比对用参考源,并对参考源进行了稳定性、重复性的考核,提出了合理可行的比对程序并给出了数据的处理方法.本次比对覆盖了相位噪声指标的三个数据段,载频包括射频和微波,通过对各参加比对实验室相位噪声测试系统比对数据的分析判定,比对结果全面、完整,准确可靠.
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文献信息
篇名
相位噪声测试系统比对方法研究
来源期刊
半导体技术
学科
工学
关键词
相位噪声测试系统
比对
实验室能力验证
年,卷(期)
2008,(9)
所属期刊栏目
封装、测试与设计
研究方向
页码范围
814-816,820
页数
4页
分类号
TM937.4
字数
1717字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1003-353X.2008.09.023
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
刘红春
中国电子科技集团公司第十三研究所
2
0
0.0
0.0
2
刘红运
7
20
2.0
4.0
传播情况
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(0)
2008(0)
参考文献(0)
二级参考文献(0)
引证文献(0)
二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
相位噪声测试系统
比对
实验室能力验证
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体技术
主办单位:
中国电子科技集团公司第十三研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1003-353X
CN:
13-1109/TN
开本:
大16开
出版地:
石家庄179信箱46分箱
邮发代号:
18-65
创刊时间:
1976
语种:
chi
出版文献量(篇)
5044
总下载数(次)
38
总被引数(次)
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