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集成电路故障诊断方法和技术
集成电路故障诊断方法和技术
作者:
吕俊霞
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
集成电路
电子元器件
检测
故障
万用表
摘要:
电子技术的迅速发展,使集成电路的应用范围越来越广,几乎使用在所有的电子设备中.当集成电路出现故障时,电路将不能正常工作.因此,应准确的判断集成电路的故障所在.
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文献信息
篇名
集成电路故障诊断方法和技术
来源期刊
电子质量
学科
工学
关键词
集成电路
电子元器件
检测
故障
万用表
年,卷(期)
2008,(1)
所属期刊栏目
理论与实践
研究方向
页码范围
41-43,61
页数
4页
分类号
TN707
字数
4364字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1003-0107.2008.01.015
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
吕俊霞
河南工业职业技术学院电气工程系
170
506
10.0
14.0
传播情况
被引次数趋势
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献
(0)
共引文献
(0)
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2008(0)
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引证文献(0)
二级引证文献(0)
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节点文献
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电子元器件
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研究起点
研究来源
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子质量
主办单位:
中国电子质量管理协会
工业和信息化部电子第五研究所(中国赛宝实验室)
出版周期:
月刊
ISSN:
1003-0107
CN:
44-1038/TN
开本:
大16开
出版地:
广州市五羊新城广兴花园32号一层
邮发代号:
46-39
创刊时间:
1980
语种:
chi
出版文献量(篇)
7058
总下载数(次)
32
总被引数(次)
15176
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