FPGA测试技术研究

• 作者: XUE Hong 赵欣
• 来源期刊: 微处理机
• 学科: 工学
• 关键词: 现场可编程门阵列 存储器型FPGA 可编程逻辑块(CLB) 连线资源
• 年，卷（期）: 2008,（2）
• 所属期刊栏目: 大规模集成电路设计、制造与应用
• 页码范围: 11-14
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 字数: 3412字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-2279.2008.02.004

摘要

随着FPGA的规模和复杂性的增加,测试显得尤为重要.FPGA测试对技术人员极具挑战性.首先介绍了SRAM型FPGA的结构概况,总结出FPGA的测试方法并应用于FPGA电路的实际测试,对FPGA测试技术进行了有益的探索.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵欣	中国电子科技集团公司第四十七研究所	4	18	2.0	4.0
2	XUE Hong	中国电子科技集团公司第四十七研究所	1	11	1.0	1.0