高速CMOS闪烁型模数转换器中的误差源研究

• 作者: 叶甜春 莫太山 马成炎
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: CMOS 闪烁型模数转换器 误差源 电路解决技术
• 年，卷（期）: 2008,（2）
• 所属期刊栏目: 固态电子器件
• 页码范围: 441-445
• 页数: 5页
• 分类号: TN79.2
• 字数: 4467字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2008.02.015

摘要

对高速CMOS闪烁型模数转换器中的六种误差源进行了研究.每个误差源会潜在的限制模数转换器的线性度和信噪比.这些误差源包括基准电压的非理想因素、前置放大器引入的输入有关的时间延迟、比较器的回程噪声、时钟抖动与分布特性、温度计码中的火花码、比较器的亚稳态.在每种误差源研究的基础上,给出了相应的电路解决技术,使得吉赫频率范围中等分辨率的CMOS闪烁型ADC成为现实.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	马成炎		50	182	8.0	10.0
2	叶甜春	中国科学院微电子研究所	200	911	14.0	18.0
3	莫太山	中国科学院微电子研究所	14	67	5.0	7.0