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基于硬件性能计数器的编译器性能测试与分析
基于硬件性能计数器的编译器性能测试与分析
作者:
朱怡安
朱艳玲
王云岚
原文服务方:
微电子学与计算机
HP-Opencc硬件性能计数器
Intel Vtune
性能测试
性能分析
摘要:
Itanium 2处理器提供的性能监控单元实现了在程序运行过程中捕捉微结构事件的功能.利用GNU Gcc、Intel Icc和HP-Opencc编译器的不同优化选项编译并运行SPEC2006基准程序.通过CPU硬件计数器(HPCs)采集的性能数据,了解特定程序特征,分析比较编译器性能差异,对HP-Opencc编译器的性能优化给出相关参考数据.实验表明HP-Opencc编译器的的分支预测优化技术可再改进.
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文献信息
篇名
基于硬件性能计数器的编译器性能测试与分析
来源期刊
微电子学与计算机
学科
关键词
HP-Opencc硬件性能计数器
Intel Vtune
性能测试
性能分析
年,卷(期)
2008,(3)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
193-196
页数
4页
分类号
TP317
字数
语种
中文
DOI
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
王云岚
西北工业大学计算机学院高性能计算中心
29
89
5.0
7.0
2
朱怡安
西北工业大学计算机学院高性能计算中心
92
538
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3
朱艳玲
西北工业大学计算机学院高性能计算中心
1
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研究主题发展历程
节点文献
HP-Opencc硬件性能计数器
Intel Vtune
性能测试
性能分析
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
微电子学与计算机
主办单位:
中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1000-7180
CN:
61-1123/TN
开本:
大16开
出版地:
邮发代号:
创刊时间:
1972-01-01
语种:
chi
出版文献量(篇)
9826
总下载数(次)
0
总被引数(次)
59060
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