质子辐照对纯铝薄膜微观结构的影响

• 作者: 关庆丰 范鲜红 陈波
• 来源期刊: 物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 质子辐照 空位簇缺陷 位错圈 微观结构
• 年，卷（期）: 2008,（3）
• 所属期刊栏目: 凝聚物质:结构、热学和力学性质
• 页码范围: 1829-1833
• 页数: 5页
• 分类号: O4
• 字数: 2879字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-3290.2008.03.088

摘要

利用透射电子显微镜(TEM)详细分析了不同剂量的质子辐照纯铝薄膜样品的微观结构,质子的能量E=160keV.实验表明,质子辐照能够在Al薄膜中诱发空位位错圈,在实验范围内,位错密度随辐照剂量的增加而增加;质子辐照在1×1011-4×1011/mm2范围内随辐照剂量的增加,位错圈数量密度以及位错圈尺寸都随之增加.在较高剂量6×1011/mm2 辐照下,位错圈数量密度减小,但其尺寸显著增加,空位倾向于形成较大的空位簇缺陷,且样品中出现胞状结构,胞壁之间有角度很小的取向差,这种胞状结构与材料力学性能的退化关系密切.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈波	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室	167	1116	17.0	24.0
2	关庆丰	江苏大学材料学院	60	362	11.0	15.0
3	范鲜红	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室	3	11	2.0	3.0